2025-07-15 00:24:20
质量管控:全生命周期数据闭环:1 数字化检测体系:部署三坐标测量实验室(蔡司Contura 7):检测维度:尺寸精度(±0.08mm)、形位公差(平面度≤0.05mm)、表面粗糙度;检测效率:单件检测时间≤12分钟,支持SPC过程控制(CpK≥1.33)。2 无损检测技术集成,?X射线探伤:GE phoenix Vantage 640系统,检测分辨率5μm,气孔率≤0.05%;超声波检测:10MHz探头,探测深度≥30mm,夹杂物定位精度±0.2mm;涡流检测:表面裂纹检出率≥99%,误报率