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关于我们

苏州致晟光电科技有限公司作为光电技术领域创新先锋,依托南京理工大学–光电技术学院的科研优势,构建产学研深度融合的技术研发体系。我司专注于微弱信号处理技术深度开发与场景化应用,已成功推出多系列光电检测设备及智能化解决方案。 致晟光电秉承着以用户的实际需求为锚点,将研发与需求紧密结合,致力于为客户创造实用、易用且高附加值的产品。我司通过自主创新,追求用户体验,为企业提供从生产线到实验室完备的失效分析解决方案。

苏州致晟光电科技有限公司公司简介

锁相微光显微镜原理 服务为先 苏州致晟光电科技供应

2025-07-15 02:23:37

半导体材料分为直接带隙半导体和间接带隙半导体,而Si是典型的直接带隙半导体,其禁带宽度为1.12eV。所以当电子与空穴复合时,电子会弹射出一个光子,该光子的能量为1.12eV,根据波粒二象性原理,该光子的波长为1100nm,属于红外光区。通俗的讲就是当载流子进行复合的时候就会产生1100nm的红外光。这也就是产生亮点的原因之一:载流子复合。所以正偏二极管的PN结处能看到亮点。如果MOS管产生latch-up现象,(体寄生三极管导通)也会观察到在衬底处产生荧光亮点。红外成像可以不破坏芯片封装,尝试定位未开封芯片失效点并区分其在封装还是 Die 内部,利于评估芯片质量。锁相微光显微镜原理

当芯片内部存在漏电缺陷,如结漏电、氧化层漏电时,电子-空穴对复合会释放光子,微光显微镜(EMMI)能捕捉并定位。对于载流子复合异常情况,像闩锁效应、热电子效应引发的失效,以及器件在饱和态晶体管、正向偏置二极管等工作状态下的固有发光,它也能有效探测,为这类与光子释放相关的失效提供关键分析依据。

而热红外显微镜则主要用于排查与热量异常相关的芯片问题。金属互联短路、电源与地短接会导致局部过热,其可通过检测红外辐射差异定位。对于高功耗区域因设计缺陷引发的电流集中导致的热分布异常,以及封装或散热结构失效造成的整体温度异常等情况,它能生成温度分布图像,助力找出热量异常根源。 高分辨率微光显微镜对比微光显微镜的自动瑕疵分类系统,可依据发光的强度、形状等特征进行归类,提高检测报告的生成效率。

选择国产 EMMI 微光显微镜,既是拥抱技术自主,更是抢占效率与成本的双重优势!致晟光电全本土化研发实力,与南京理工大学光电技术学院深度携手,致力于光电技术研究和产业化应用,充分发挥其科研优势,构建起产学研深度融合的技术研发体系。

凭借这一坚实后盾,我们的 EMMI 微光显微镜在性能上实现更佳突破:-80℃制冷型探测器搭配高分辨率物镜,轻松捕捉极微弱漏电流光子信号,漏电缺陷定位精度与国际设备同步,让每一个细微失效点无所遁形。

例如,当某批芯片在测试中发现漏电失效时,我们的微光显微镜能定位到具体的失效位置,为后续通过聚焦离子束(FIB)切割进行截面分析、追溯至栅氧层缺陷及氧化工艺异常等环节提供关键前提。可以说,我们的设备是半导体行业失效分析中定位失效点的工具,其的探测能力和高效的分析效率,为后续问题的解决奠定了不可或缺的基础。

在芯片研发阶段,它能帮助研发人员快速锁定设计或工艺中的隐患,避免资源的无效投入;在量产过程中,它能及时发现批量性失效的源头,为生产线调整争取宝贵时间,降低损失;在产品应用端,它能为可靠性问题的排查提供方向,助力企业提升产品质量和市场口碑。无论是先进制程的芯片研发,还是成熟工艺的量产检测,我们的设备都以其独特的技术优势,成为失效分析流程中无法替代的关键一环,为半导体企业的高效运转和技术升级提供有力支撑。 当二极管处于正向偏置或反向击穿状态时,会有强烈的光子发射,形成明显亮点。

微光显微镜的原理是探测光子发射。它通过高灵敏度的光学系统捕捉芯片内部因电子 - 空穴对(EHP)复合产生的微弱光子(如 P-N 结漏电、热电子效应等过程中的发光),进而定位失效点。其探测对象是光信号,且多针对可见光至近红外波段的光子。热红外显微镜则基于红外辐射测温原理工作。芯片运行时,失效区域(如短路、漏电点)会因能量损耗异常产生局部升温,其释放的红外辐射强度与温度正相关。设备通过检测不同区域的红外辐射差异,生成温度分布图像,以此定位发热异常点,探测对象是热信号(红外波段辐射)。支持自定义检测参数,测试人员可根据特殊样品特性调整设置,获得较为准确的检测结果。高分辨率微光显微镜设备制造

我司设备面对闸极氧化层缺陷,微光显微镜可检测其漏电,助力及时解决相关问题,避免器件性能下降或失效。锁相微光显微镜原理

失效背景调查就像是为芯片失效分析开启 “导航系统”,能帮助分析人员快速了解芯片的基本情况,为后续工作奠定基础。收集芯片型号是首要任务,不同型号的芯片在结构、功能和特性上存在差异,这是开展分析的基础信息。同时,了解芯片的应用场景也不可或缺,是用于消费电子、工业控制还是航空航天等领域,不同的应用场景对芯片的性能要求不同,失效原因也可能大相径庭。

失效模式的收集同样关键,短路、漏电、功能异常等不同的失效模式,指向的潜在问题各不相同。比如短路可能是由于内部线路故障,而漏电则可能与芯片的绝缘性能有关。失效比例的统计也有重要意义,如果同一批次芯片失效比例较高,可能暗示着设计缺陷或制程问题;如果只是个别芯片失效,那么应用不当的可能性相对较大。 锁相微光显微镜原理

苏州致晟光电科技有限公司汇集了大量的优秀人才,集企业奇思,创经济奇迹,一群有梦想有朝气的团队不断在前进的道路上开创新天地,绘画新蓝图,在江苏省等地区的机械及行业设备中始终保持良好的信誉,信奉着“争取每一个客户不容易,失去每一个用户很简单”的理念,市场是企业的方向,质量是企业的生命,在公司有效方针的领导下,全体上下,团结一致,共同进退,齐心协力把各方面工作做得更好,努力开创工作的新局面,公司的新高度,未来苏州致晟光电科技供应和您一起奔向更美好的未来,即使现在有一点小小的成绩,也不足以骄傲,过去的种种都已成为昨日我们只有总结经验,才能继续上路,让我们一起点燃新的希望,放飞新的梦想!

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